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电子五金件老化与筛选的方法

文章作者:昊通五金   发布时间:2015-08-10
电子五金件的失效多是由于体内和表面各种物理、化学变化所引起的,和温度有着密切的关系。温度升高以后,化学反应速率加快,失效过程加速,使有缺陷五金件能及时的暴露,从而加以剔除。

在正规的电子工厂里,采用的老化筛选项目一般有:高温贮藏;功率老化;温度循环;离心加速度;粗细检漏;镜检;监控振动和冲击;筛选等方法。其中功率老化是给试验的电子五金件通电,模拟实际工作条件,再加上+80℃一十180℃的高温经历几个小时,它是一种对五金件多种潜在故障都有检验作用的措施,也是目前采用得   多的一种方法。
  性筛选不同于一般的质量验收,它是通过施加应力或者检测的办法来剔除早期失效(即有缺陷的)产品,所以,性筛选不是检查产品的好坏,而是假设所有产品开始时都是好的,而且,性筛选是对的产品进行试验。
  常用的老化与筛选方法有:
  (1)高温贮藏。电子五金件的失效多是由于体内和表面各种物理、化学变化所引起的,和温度有着密切的关系。温度升高以后,化学反应速率加快,失效过程加速,使有缺陷五金件能及时的暴露,从而加以剔除。
  (2)功率老化。功率老化又称电老化或电老练。筛选时在热电应力的共同作用下,能较好地暴露五金件表面和体内的潜在缺陷,它是性筛选的主要项目。
  (3)温度循环。利用极端高温和极端低温间的热胀冷缩应力,能的剔除有热性能缺陷的产品。常用的筛选条件是-55℃一+125℃,循环5—10次。
  (4)离心加速度。通常在半导体器件上进行。它是利用高速旋转产生的离心力作用于器件上,可以剔除键合强度过弱、内引线匹配不良以及装架不良的器件。
  (5)粗细检漏。粗细检漏又称气密性试验。通常在半导体器件和其他有气密性要求的产品上进行。它用来剔除气密性不好的五金件,以产品在长期使用中的性。
  (6)镜检。产品在封装以前用显微镜检查通常称为镜检。对于半导体器件这是一种重要的无损筛选手段。通常用30一150X立体显微镜观察各种缺陷,   时可以用高倍显微镜观察缺陷。
  (7)监控振动和冲击。在对产品进行振动或冲击试验的同时,监测电性能,常称为监控振动或监控冲击试验。
  (8)筛选。筛选通常是在较低的应力条件下(接近或略高与五金件的现场使用条件)进行3000--5000h的电老化。筛选试验需要专门的仪器设备,费用昂贵,周期较长,一般仅在航空、航天等长期稳定的系统五金件筛选中作为   的筛选项目。
  对于业余爱好者来说,在单件电子制作过程中,是不太可能采取这些方法进行老化检测的,在大多数情况下,采用了自然老化的方式。例如使用前将五金件存放一段时间,让电子五金件自然地经历夏季高温和冬季低温的考验,然后再来检测它们的电性能,看是否符合使用要求,优存劣汰。
  此外,对于一些急用的电子五金件,也可采用简易电老化方式,可采用一台输出电压可调的脉动直流电源,使加在电子五金件两端的电压略高于元件额定值的工作电压,调整流过五金件的电流强度,使其功率为1.5—2倍额定功率,通电几分钟甚至   长时间,利用五金件自身的特性而发热升温,完成简易老化过程。

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